麗水雜質分離*
控制閥選型的原則根據工藝條件,選擇合適的結構形式和材料。根據工藝對象的特點,選擇控制閥的流量特性。根據工藝操作參數,選擇合適的控制閥口徑尺寸。根據工藝過程的要求,選擇所需要的輔助裝置。合理選擇執行機構。執行機構的響應速度應能滿足工藝對控制行程時間的要求:所選用的控制閥執行機構應能滿面足閥門行程和工藝對泄露量等級的要求。在某些場合,如選用壓力控制閥(包括放空閥),應考慮實際可能的壓差進行適當的放大,即要求執行機構能提供較大的作用力。
隨著科學技術的進步,20世紀80年代以來,有4種軟電離技術產生,分別為等離子體解吸(PD-MS)、快原子轟擊(FAB )、電噴霧(ESI )和基質輔助激光解吸/電離(MALDI)。
等離子體解吸的原理是:采用放射性同位素的核裂變碎片作為初級粒子轟擊樣品使其電離,樣品以適當溶劑溶解后涂布于0.5-1µm 厚的鋁或鎳箔上,核裂變碎片從背面穿過金屬箔,把大量能量傳遞給樣品分子,使其解吸電離。在制備樣品時,采用硝化纖維素作為底物使得PD-MS 可用以分析分子量高達14 000 的多肽和蛋白質樣品。
麗水雜質分離*一為離心分離,利用離心分離機高速旋轉使污泥濃縮而去除,但此種方法耗能高,且微小懸浮性固體去除率很低,實踐證明不是為理想的辦法。通過試驗發現用污泥處理的帶式壓濾機和板框壓濾機用于去除SS效果非常理想,但二者相比之下,由于帶壓機在工作時跑泥,有漏點,在幾個實際工程的比較中,采用板框壓濾機為理想。通過造粒機和板框壓濾機后,SS級降低8%,COD能降低5%,溶解性固體能降低9%。在釀酒工藝糖化單元中產生大量色素,使終出水色度成為一大難題,去除色度方法很多,但就其一次性投資和去除效果而言,推薦三種處理方法。
快原子轟擊的原理是,一束高能粒子,如氬、氙原子,射向存在于液態基質中的樣品分子而得到樣品離子,這樣可以得到提供分子量信息的準分子離子峰和提供化合物結構信息的碎片峰??煸愚Z擊操作方便、靈敏度高、能在較長時間里獲得穩定離子流。當用于絕大多數生物體中寡糖及其衍生物的分析時,可測分子量達6000。而且在該質量范圍內,其靈敏度遠高于在15000 范圍
質譜儀
內新一代全加速儀器的靈敏度。此外,Camim 等采用FAB-MS 分析從Hafnia alvei中得到的四個寡糖組分,檢測到了NMR 不能觀測到的寡糖、并揭示了寡糖結構的非均一性。
電噴霧電離的原理是:噴霧器頂端施加一個電場給微滴提供凈電荷;在高電場下,液滴表面產生高的電應力,使表面被破壞產生微滴;荷電微滴中溶劑的蒸發;微滴表面的離子“蒸發"到氣相中,進入質譜儀。為了降低微滴的表面能,加熱至200~250℃,可使噴霧效率提高。FAB-MS 可以顯示碎片離子,但只能產生單電荷離子,因此不適用于分析分子量超過分析器質量范圍的分子。ESI 可以產生多電荷離子,每一個都有準確的小m/z 值。此外還可以產生多電荷母離子的子離子,這樣就可以產生比單電荷離子的子離子更多的結構信息。而且,ESI-MS 可以補充或增強由FAB 獲得的信息,即使是小分子也是如此。
不同品質的控制閥,其故障發生頻率以及故障原因會有很大差別??刂崎y的工作條件比較復雜,因此控制閥的故障現象多種多樣。一般來說,致使控制閥發生故障的原因主要有四種類型:選型錯誤、安裝不當、使用欠妥、疲勞損壞。各個儀表附件控制著控制閥的工作。多種原因可能導致閥門出現同一故障。造成控制閥常見的填料外漏或者閥門內漏的原因,可能有數十種。在進行故障分析時要避免頭痛醫頭、腳痛醫腳、勞而無功。否則將會造成短期內同一故障的反復出現,后歸咎于閥門質量問題,更換新的閥門,造成不必要的浪費。
質譜儀
基質輔助激光解吸離子化質譜(Matrix-assisted laser desorption ionization mass spectrometry,MALDI-MS) 是20世紀80 年代末問世并迅速發展起來的質譜分析技術。這種離子化方式產生的離子常用飛行時間(time of flight,TOF)檢測器檢測,因此MALDI常與TOF一起稱為基質輔助激光解吸離子化飛行時間質譜(MALDI-TOF-MS)。MALDI-TOF-MS技術,使傳統的主要用于小分子物質研究的質譜技術發生了革命性的變革,從此邁入生物質譜技術發展新時代。該技術的特點是采用被稱為“軟電離"方式,一般產生穩定分子離子,因而是測定生物大分子分子量的有效方法,廣泛地運用于生物化學,尤其對蛋白質、核酸的分析研究已經取得了突破性進展。MALDI-MS 在糖研究中的應用,也顯示出一定的潛力和應用前景。另外在高分子化學、有機化學、金屬有機化學、藥學等領域也顯示出*的潛力和應用前景,已經成為廣大科技工作者研究于分析大分子分子質量、純度、結構的理想工具。其廣泛應用于生物化學領域,
iii.低兩位閃動時可以輸入秒,按確認鍵確認數據,并轉去輸入序號,按退鍵不確認數據,中兩位閃動并轉入分鐘。f)輸入日期:顯示器顯示XX-XX-XX,且高位閃動,其中高兩位為年,中兩位為月,低兩位為日?;炷羷訌梼x使用:i.高兩位閃動時可輸入年,按確認鍵確認數據,同時中兩位閃動,轉去輸入日,按確認鍵確認數據,但轉到自動或手動測試狀態。ii.中兩位閃動時可輸入日,按確認鍵確認數據,低兩位閃動,同時轉去輸入日,按確認鍵確認數據,轉入輸入年,此時高兩位閃動。